单波长X荧光硅含量分析仪的原理及优势介绍

　　单波长X荧光硅含量分析仪是由低功率X射线管发射的多波长X射线萤光，由双曲面弯晶光学元件捕获并聚焦，照射一个具有合适波长的单色X射线，可以激发样品盒中被测样品上硅元素K层中的电子，形成一个小点。单色主光束激发样品并发射次级特征荧光X射线。只有波长为0.713nm的K被硅元素激发，通过第二双曲弯曲晶体光学元件收集，通过适当的检测器测量X射线荧光，然后使用校准方程转换为被测样品中的硅含量。
 

　　单波长X荧光硅含量分析仪的工作原理：
 

　　低功率X射线管发出的多波长X射线荧光被双曲面弯曲晶体光学元件捕获并聚焦，并将波长合适的能够激发硅元素K层电子的单色X射线照射在样品盒中的被测样品上，形成一个小点。单色主光束激发样品并发射次级特征荧光X射线。只有波长为0.713nm的K被硅元素激发，通过第二双曲弯曲晶体光学元件收集，通过适当的检测器测量X射线荧光，然后使用校准方程转换为被测样品中的硅含量。
 

　　单波长X荧光硅含量分析仪的产品优势：
 

　　1、样品制备和仪器操作过程简单，检测速度快，分析时间300秒；
 

　　2、无样品损失或转化，无耗气量，高温操作；
 

　　3、直接检测，无需样品预处理；超低维护和更少校准频率；
 

　　4、体积小，可放置在任何实验室，即插即用；样品杯膜无接触和切割；
 

　　5、单波长X射线荧光硅分析仪配有标准工作站，可以有更多的数据存储空间，同时实现LIMS功能；
 

　　6、分析仪中没有运动部件；标准的12位自动取样器可以真正提高效率。